Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Publikace:
Molybdenum diselenide thin films grown by atomic layer deposition: An XPS analysis

Článekopen accesspeer-reviewedpreprint
Zobrazit minimální záznam
dc.contributor.authorRodriguez Pereira, Jhonatancze
dc.contributor.authorZazpe, Raulcze
dc.contributor.authorCharvot, Jaroslavcze
dc.contributor.authorBureš, Filipcze
dc.contributor.authorMacák, Jancze
dc.date.accessioned2021-05-15T18:18:22Z
dc.date.available2021-05-15T18:18:22Z
dc.date.issued2020eng
dc.description.abstractMolybdenum diselenide (MoSe2) thin films were deposited on annealed titanium foils by atomic layer deposition using suitable precursors. In this paper, a detailed x-ray photoelectron spectroscopy analysis of the MoSe2 film is presented. Survey spectra, Mo 3d, Se 3d, Mo 3p, Se LMM, Se 3p, C 1s, and Se 4s core level along with the valence band spectra were measured. Quantitative analysis indicates a surface composition of MoSe1.8, suggesting a deficiency of selenium on the surface.eng
dc.description.abstract-translatedTenké vrstvy selenidu molybdenatého (MoSe2) byly deponovány na vyžíhané titanové fólie pomocí depozice atomárních vrstev s využitím vhodných prekursorů. V článku popisujeme detailní analýzu těchto vrstev pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). V přehledovém spektru byly měřeny struktury jader Mo 3d, Se 3d, Mo 3p, Se LMM, Se 3p, C 1s, and Se 4s a také spektra valenčních pásů. Kvantitativní analýza indikovala povrochové složení MoSe1.8, které poukazuje na nedostatečné množství Se v povrchové vrstvě.cze
dc.format"024006-1"-"024006-8"eng
dc.identifier.doi10.1116/6.0000354eng
dc.identifier.issn1055-5269eng
dc.identifier.obd39884895eng
dc.identifier.scopus2-s2.0-85090291834
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10195/77052
dc.identifier.wos000564178000001eng
dc.language.isoengeng
dc.peerreviewedyeseng
dc.publicationstatuspreprinteng
dc.publisherAmerican Institute of Physicseng
dc.relation.ispartofSurface Science Spectra, volume 27, issue: 2eng
dc.relation.publisherversionhttps://avs.scitation.org/doi/full/10.1116/6.0000354eng
dc.rightsbez omezenícze
dc.subjectMoSe2eng
dc.subjecttransition metal dichalcogenideseng
dc.subjectthin filmseng
dc.subject2D materialeng
dc.subjectXPSeng
dc.subjectMoSe2cze
dc.subjectdichalkogenidy přechodných prvkůcze
dc.subjecttenké vrstvycze
dc.subject2D materiálycze
dc.subjectXPScze
dc.titleMolybdenum diselenide thin films grown by atomic layer deposition: An XPS analysiseng
dc.title.alternativeTenké vrstvy MoSe2 připravené depozicí atomárních vrstev: XPS analýzycze
dc.typeArticleeng
dspace.entity.typePublication

Soubory

Původní svazek

Nyní se zobrazuje 1 - 1 z 1
Náhled
Název:
MoSe2_thin_films_grown_by_ALD_An_XPS_analysis.pdf
Velikost:
1.64 MB
Formát:
Adobe Portable Document Format
Popis:
MoSe2_thin_films_grown_by_ALD_An_XPS_analysis.pdf (1.64 MB)

Kolekce

Publikační činnost akademických pracovníků UPCE / UPCE Research Outputs
Publikační činnost akademických pracovníků FChT / FChT Research Outputs