Vyžádat si kopii souboru
Zadejte následující informace, abyste si vyžádali kopii následující záznamy: Spectroscopic ellipsometry characterization of ZnO:Sn thin films with various Sn composition deposited by remote-plasma reactive sputtering
Žádám o kopii následujícího souboru: 1-s2.0-S0169433216322954-main.pdf