Abstract:
Tato bakalářská práce se věnuje studiu růstu krystalů ve vzorcích chalkogenidových tenkých vrstev o složení Ge20Se80. Krystalizace byla studována zejména infračervenou mikroskopií, dále elektronovou mikroskopií spolu s energiově disperzní spektroskopií a rentgenovou difrakční analýzou. Z experimentálních dat byla určena aktivační energie růstu krystalů a byla porovnána s literaturou.