Abstract:
Během této práce byly připraveny polykrystalické vzorky SnSe2 dopované TiSe2 o nominálním složení (SnSe2)1-x(TiSe2)x, kde x = 0 ? 0,05. Řada vzorků byla připravena v odporové peci. Vzniklé ingoty bylý nadrceny a použita k přípravě tablet lisovaných za tepla. Malá část nadrceného vzorku baly poskytnuta na měření práškové rentgenové difrakce (PXRD). Připravené tablety byly použity na změření transportních a termoelektrických (TE) vlastností, ze kterých se posuzovala použitelnost daných vzorků s ohledem na TE aplikace.
