Molybdenum diselenide thin films grown by atomic layer deposition: An XPS analysis
Článekpeer-reviewedpreprint Náhled není k dispozici
Datum publikování
2020
Vedoucí práce
Oponent
Název časopisu
Název svazku
Vydavatel
American Institute of Physics
Abstrakt
Molybdenum diselenide (MoSe2) thin films were deposited on annealed titanium foils by atomic layer deposition using suitable precursors. In this paper, a detailed x-ray photoelectron spectroscopy analysis of the MoSe2 film is presented. Survey spectra, Mo 3d, Se 3d, Mo 3p, Se LMM, Se 3p, C 1s, and Se 4s core level along with the valence band spectra were measured. Quantitative analysis indicates a surface composition of MoSe1.8, suggesting a deficiency of selenium on the surface.
Rozsah stran
"024006-1"-"024006-8"
ISSN
1055-5269
Trvalý odkaz na tento záznam
Projekt
Zdrojový dokument
Surface Science Spectra, volume 27, issue: 2
Vydavatelská verze
https://avs.scitation.org/doi/full/10.1116/6.0000354
Přístup k e-verzi
bez omezení
Název akce
ISBN
Studijní obor
Studijní program
Signatura tištěné verze
Umístění tištěné verze
Přístup k tištěné verzi
Klíčová slova
MoSe2, transition metal dichalcogenides, thin films, 2D material, XPS, MoSe2, dichalkogenidy přechodných prvků, tenké vrstvy, 2D materiály, XPS