Cílem práce bylo zhotovit vzorky tištěné elektroniky pomocí sítotisku, nasimulovat jejich chyby a následně je pomocí termokamery změřit. Jejich vyhodnocení probíhalo v programu FLIR Tools.
V teoretické části jsou popsány prvky termovizní kamery a základní principy pro měření infračerveného záření. Do experimentální části byl zahrnut popis programu FLIR.
