Preparation and characterization of (Bi1-xSbx)2Se3 single crystals
ČlánekOtevřený přístuppeer-reviewedpublishedDatum publikování
1999
Autoři
Vedoucí práce
Oponent
Název časopisu
Název svazku
Vydavatel
Univerzita Pardubice
Abstrakt
This review paper summarizes papers dealing with characterization of (Bi1-xSbx)2Se3 single crystals which have been produced at the Faculty of Chemical Technology, University of Pardubice. The single crystals of (Bi1-xSbx)2Se3, prepared by a modified Bridgman method, were characterized by means of the X-ray diffraction analysis, homogeneity assessment, and by measurements of the reflectance in the plasma resonance range, transmittance, electric conductivity , Hall constant RH(B//c), Seebeck coefficient alfa(T c) and by figure of merit Z. The model of point defects in single crystals (Bi1-xSbx)2Se3 is used for qualitetive explanation of the changes in physical properties induced by incorporation of Sb atoms into Bi2Se3.
Rozsah stran
p. 87-114
ISSN
1211-5541
Trvalý odkaz na tento záznam
Projekt
Zdrojový dokument
Scientific papers of the University of Pardubice. Series A, Faculty of Chemical technology. 4(1998)
Vydavatelská verze
Přístup k e-verzi
open access
Název akce
ISBN
Studijní obor
Studijní program
Signatura tištěné verze
47333
Umístění tištěné verze
Univerzitní knihovna (studovna)
Přístup k tištěné verzi
Klíčová slova
krystaly (Bi1-xSbx)2Se3, příprava, Bridgmanova metoda, Rentgenová difrakční analýza, Identifikace