Publikace: Syntéza a elektrické vlastnosti objemových chalkogenidových skel obsahující stříbro
Disertační práceopen accessNačítá se...
Datum
Autoři
Stehlík, Štěpán
Název časopisu
ISSN časopisu
Název svazku
Nakladatel
Univerzita Pardubice
Abstrakt
Tato práce se zaměřila na syntézu a studium elektrických vlastností objemových
skel v obecném systému Agx(As0,33Ch0,67)100-x, kde Ch = S, Se, Te a jejich kombinace.
Hlavním cílem bylo sledovat elektrické vlastnosti v závislosti na koncentraci stříbra a
měnícího se chalkogenu. Detailně byly prostudovány tyto systémy: Agx(As0,33S0,67)100-x,
Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x, Agx(As0,33Se0,67)100-x a Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x. Úroveň
koncentrace stříbra, kterou bylo možno zabudovat do základní chalkogenidové matrice
AsCh2, se lišila systém od systému. Do systému Agx(As0,33S0,67)100-x bylo možno
zabudovat až 26 at.% Ag; tato úroveň byla později zvýšena na 32 at.% Ag a je
pravděpodobné, že hraniční koncentrace leží ještě výše. Do systému
Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x bylo možno zabudovat až 26 at.% Ag, do systému
Agx(As0,33Se0,67)100-x 14 at.% Ag a do systému Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x 20 at.% Ag.
Všechny vzorky byly připraveny přímou syntézou z prvků v evakuovaných křemenných
ampulích. Amorfní stav vzorků byl ověřován rentgenovou strukturní analýzou a jejich
mikroskopická homogenita skenovací elektronovou mikroskopií (SEM). Složení vzorků
bylo ověřováno rentgenovou fluorescenční analýzou (EDX – energy-dispersive X-ray
spectroscopy). Informace o struktuře jednotlivých fází u některých vzorků v systému
Agx(As0,33S0,67)100-x podala mikro-Ramanova spektroskopie. Elektrické vlastnosti
připravených skel byly studovány impedanční spektroskopií a potenciostatickou
chronoamperometrií. Hodnoty skelné transformace byly určovány modulovanou
diferenční skenovací kalorimetrií (MDSC).
Bylo zjištěno, že v objemových sklech systému Agx(As0,33S0,67)100-x,
Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x a pravděpodobně i v systému Agx(As0,33Se0,67)100-x nastává
s přídavkem stříbra fázová separace na stříbrem bohatší fázi a stříbrem chudší fázi.
Tento jev způsobuje perkolační průběh vodivosti s rostoucím obsahem stříbra, který je
způsoben náhlým propojením stříbrem bohatší, více vodivé fáze. Tato objemová
perkolace nastává v rozmezí 6 – 9 at.% Ag v závislosti na systému. U systémů s jasně
pozorovatelnými fázemi (Agx(As0,33S0,67)100-x a Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x) roste
v oblasti fázové separace vodivost přibližně lineárně, což naznačuje spolu s blízkými
hodnotami aktivačních energií pro separované vzorky nad perkolačním prahem, že
složení stříbrem bohatší fáze zůstává přibližně konstantní. Vodivost vzorků před
objemovým perkolačním prahem nebylo možno z důvodu vysokého odporu změřit, což
- 6 -
naznačuje velmi malou koncentraci stříbra ve stříbrem chudé fázi. V oblasti
homogenních skel vodivost rostla exponenciálně s rostoucí koncentrací stříbra. Skla
v systému Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x byla mikroskopicky homogenní a jejich vodivost
s rostoucí koncentrací stříbra rostla přibližně exponenciálně. Spolu s celkovými
vodivostmi zjištěnými impedanční spektroskopií byla určována i zbytková elektronová
(děrová) vodivost potenciostatickou chronoamperometrií. Při této metodě bylo na
vzorek opatřený iontově-blokujícími elektrodami přivedeno stejnosměrné napětí a
z hodnoty ustáleného proudu po čase t byla vypočtena zbytková elektronová (děrová)
vodivost. Bylo zjištěno, že skla v systémech Agx(As0,33S0,67)100-x a
Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x jsou téměř výhradně iontovými vodiči, přechod od
amorfního polovodiče k smíšenému iontově – elektronovému (děrovému) vodiči byl
pozorován u systému Agx(As0,33Se0,67)100-x a u systému Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x byla
vodivost již výhradně elektronová (děrová).
Druhým hlavním úkolem práce bylo sledovat elektrické vlastnosti skel v systému
Ga2S3 – GeS2 – AgX, kde X = Cl, Br a I. Přímou syntézou z prvků a AgX byly
v evakuovaných křemenných ampulích připraveny tyto vzorky: (100-2x)GeS2-xGa2S3-
xAgI (x = 15, 20, 25, 30 at.% Ag), 60GeS2-20Ga2S3-20AgX (X = Cl, Br a I). Byly tedy
sledovány dvě řady: v první rostl obsah jodidu stříbrného spolu se sulfidem gallitým,
v druhé řadě byly testovány vzorky s konstantní koncentrací halogenidu stříbrného, ale
měnila se jeho kvalita od chloridu, přes bromid po jodid. Amorfní stav vzorků byl
potvrzen rentgenovou difrakční analýzou. Vodivost skel tohoto typu rostla s rostoucím
obsahem AgI přibližně exponenciálně a pomocí potenciostatické chronoamperometrie
bylo potvrzeno, že připravená skla jsou téměř výhradně iontovými vodiči se
zanedbatelnou elektronovou (děrovou) vodivostí.
Součástí této práce je i kapitola s naznačenými perspektivními směry, kterými by
se mohl výzkum v oblasti amorfních iontových vodičů ubírat v blízké budoucnosti.
Popis
Klíčová slova
chalkogenidová skla, amorfní polovodiče, iontové vodiče, impedanční spektroskopie, elektrická vodivost, fázová separace, prekolační práh, chalcogenide glasses, amorphous semiconductors, ion conductors, impedance spectroscopy, electric conductivity, phase separation, percolation threshold