Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Publikace:
Syntéza a elektrické vlastnosti objemových chalkogenidových skel obsahující stříbro

Disertační práceopen access

Výzkumné projekty

Organizační jednotky

Číslo časopisu

Abstrakt

Tato práce se zaměřila na syntézu a studium elektrických vlastností objemových skel v obecném systému Agx(As0,33Ch0,67)100-x, kde Ch = S, Se, Te a jejich kombinace. Hlavním cílem bylo sledovat elektrické vlastnosti v závislosti na koncentraci stříbra a měnícího se chalkogenu. Detailně byly prostudovány tyto systémy: Agx(As0,33S0,67)100-x, Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x, Agx(As0,33Se0,67)100-x a Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x. Úroveň koncentrace stříbra, kterou bylo možno zabudovat do základní chalkogenidové matrice AsCh2, se lišila systém od systému. Do systému Agx(As0,33S0,67)100-x bylo možno zabudovat až 26 at.% Ag; tato úroveň byla později zvýšena na 32 at.% Ag a je pravděpodobné, že hraniční koncentrace leží ještě výše. Do systému Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x bylo možno zabudovat až 26 at.% Ag, do systému Agx(As0,33Se0,67)100-x 14 at.% Ag a do systému Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x 20 at.% Ag. Všechny vzorky byly připraveny přímou syntézou z prvků v evakuovaných křemenných ampulích. Amorfní stav vzorků byl ověřován rentgenovou strukturní analýzou a jejich mikroskopická homogenita skenovací elektronovou mikroskopií (SEM). Složení vzorků bylo ověřováno rentgenovou fluorescenční analýzou (EDX – energy-dispersive X-ray spectroscopy). Informace o struktuře jednotlivých fází u některých vzorků v systému Agx(As0,33S0,67)100-x podala mikro-Ramanova spektroskopie. Elektrické vlastnosti připravených skel byly studovány impedanční spektroskopií a potenciostatickou chronoamperometrií. Hodnoty skelné transformace byly určovány modulovanou diferenční skenovací kalorimetrií (MDSC). Bylo zjištěno, že v objemových sklech systému Agx(As0,33S0,67)100-x, Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x a pravděpodobně i v systému Agx(As0,33Se0,67)100-x nastává s přídavkem stříbra fázová separace na stříbrem bohatší fázi a stříbrem chudší fázi. Tento jev způsobuje perkolační průběh vodivosti s rostoucím obsahem stříbra, který je způsoben náhlým propojením stříbrem bohatší, více vodivé fáze. Tato objemová perkolace nastává v rozmezí 6 – 9 at.% Ag v závislosti na systému. U systémů s jasně pozorovatelnými fázemi (Agx(As0,33S0,67)100-x a Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x) roste v oblasti fázové separace vodivost přibližně lineárně, což naznačuje spolu s blízkými hodnotami aktivačních energií pro separované vzorky nad perkolačním prahem, že složení stříbrem bohatší fáze zůstává přibližně konstantní. Vodivost vzorků před objemovým perkolačním prahem nebylo možno z důvodu vysokého odporu změřit, což - 6 - naznačuje velmi malou koncentraci stříbra ve stříbrem chudé fázi. V oblasti homogenních skel vodivost rostla exponenciálně s rostoucí koncentrací stříbra. Skla v systému Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x byla mikroskopicky homogenní a jejich vodivost s rostoucí koncentrací stříbra rostla přibližně exponenciálně. Spolu s celkovými vodivostmi zjištěnými impedanční spektroskopií byla určována i zbytková elektronová (děrová) vodivost potenciostatickou chronoamperometrií. Při této metodě bylo na vzorek opatřený iontově-blokujícími elektrodami přivedeno stejnosměrné napětí a z hodnoty ustáleného proudu po čase t byla vypočtena zbytková elektronová (děrová) vodivost. Bylo zjištěno, že skla v systémech Agx(As0,33S0,67)100-x a Agx(As0,33S0,335Se0,335)100-x jsou téměř výhradně iontovými vodiči, přechod od amorfního polovodiče k smíšenému iontově – elektronovému (děrovému) vodiči byl pozorován u systému Agx(As0,33Se0,67)100-x a u systému Agx(As0,33Se0,335Te0,335)100-x byla vodivost již výhradně elektronová (děrová). Druhým hlavním úkolem práce bylo sledovat elektrické vlastnosti skel v systému Ga2S3 – GeS2 – AgX, kde X = Cl, Br a I. Přímou syntézou z prvků a AgX byly v evakuovaných křemenných ampulích připraveny tyto vzorky: (100-2x)GeS2-xGa2S3- xAgI (x = 15, 20, 25, 30 at.% Ag), 60GeS2-20Ga2S3-20AgX (X = Cl, Br a I). Byly tedy sledovány dvě řady: v první rostl obsah jodidu stříbrného spolu se sulfidem gallitým, v druhé řadě byly testovány vzorky s konstantní koncentrací halogenidu stříbrného, ale měnila se jeho kvalita od chloridu, přes bromid po jodid. Amorfní stav vzorků byl potvrzen rentgenovou difrakční analýzou. Vodivost skel tohoto typu rostla s rostoucím obsahem AgI přibližně exponenciálně a pomocí potenciostatické chronoamperometrie bylo potvrzeno, že připravená skla jsou téměř výhradně iontovými vodiči se zanedbatelnou elektronovou (děrovou) vodivostí. Součástí této práce je i kapitola s naznačenými perspektivními směry, kterými by se mohl výzkum v oblasti amorfních iontových vodičů ubírat v blízké budoucnosti.

Popis

Klíčová slova

chalkogenidová skla, amorfní polovodiče, iontové vodiče, impedanční spektroskopie, elektrická vodivost, fázová separace, prekolační práh, chalcogenide glasses, amorphous semiconductors, ion conductors, impedance spectroscopy, electric conductivity, phase separation, percolation threshold

Citace

Permanentní identifikátor

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By