Publikace: Influence of 2D CuxAl(100-x) electrodes on the CuxAl(100-x)/Cu21(SiO2)79/W memristive device
Článekopen accesspreprint| dc.contributor.author | Gu, Bin | cze |
| dc.contributor.author | Wen, Guangyu | cze |
| dc.contributor.author | Zhang, Bo | cze |
| dc.contributor.author | Rodriguez Pereira, Jhonatan | cze |
| dc.contributor.author | Wágner, Tomáš | cze |
| dc.date.accessioned | 2025-10-07T10:22:21Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description.abstract | In recent years, 2D metal nanomaterials have emerged as a novel class of 2D materials owing to their unique physiochemical properties. In this paper, memristive devices (Al-x((100-x))(BE)/Cu-21(SiO2)(79)/W(TE)) were fabricated utilizing 2D CuxAl(100-x) mate-rials with different compositions as electrodes. After exfoliation by sonication, the minimum thickness of the freestanding single layer of 2D CuxAl(100-x) was only 1.5 nm. Furthermore, the distribution of SET thresholds was determined by the composition of the 2D CuxAl(100-x) materials. The results suggest that the SET and RESET thresholds can be adjusted according to the composition of the 2D CuxAl(100-x) materials. The application of 2D metals as electrodes is promising for miniature memristive devices | eng |
| dc.description.abstract-translated | V posledních letech se 2D kovové nanomateriály objevily jako nová třída 2D materiálů díky svým jedinečným fyzikálně-chemickým vlastnostem. V tomto článku byla vyrobena memristivní zařízení (Al-x((100-x))(BE)/Cu-21(SiO2)(79)/W(TE)) využívající jako elektrody 2D matriály CuxAl(100-x) s různým složením. Po exfoliaci sonikací byla minimální tloušťka volně stojící jednoduché vrstvy 2D CuxAl(100-x) pouze 1,5 nm. Dále bylo rozložení prahů SET určeno složením 2D materiálů CuxAl(100-x). Výsledky naznačují, že prahy SET a RESET lze upravit podle složení 2D materiálů CuxAl(100-x). Použití 2D kovů jako elektrod je slibné pro miniaturní memristivní zařízení. | cze |
| dc.format | p. 2451018 | eng |
| dc.identifier.doi | 10.1142/S1793604724510184 | |
| dc.identifier.issn | 1793-6047 | |
| dc.identifier.obd | 39890274 | |
| dc.identifier.scopus | 2-s2.0-85187929626 | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10195/86079 | |
| dc.identifier.wos | 001217478100006 | |
| dc.language.iso | eng | |
| dc.peerreviewed | no | eng |
| dc.publicationstatus | preprint | eng |
| dc.publisher | World Scientific Publishing Co. | eng |
| dc.relation.ispartof | Functional Materials Letters, volume 17, issue: 04 | eng |
| dc.relation.publisherversion | https://www.worldscientific.com/doi/10.1142/S1793604724510184 | |
| dc.rights | open access | eng |
| dc.subject | 2D materials | eng |
| dc.subject | memristive device | eng |
| dc.subject | 2D materiály | cze |
| dc.subject | memrisistivní zařízení | cze |
| dc.title | Influence of 2D CuxAl(100-x) electrodes on the CuxAl(100-x)/Cu21(SiO2)79/W memristive device | eng |
| dc.title.alternative | Vliv 2D elektrod CuxAl(100-x) na memristivní zařízení CuxAl(100-x)/Cu21(SiO2)79/W | cze |
| dc.type | article | eng |
| dspace.entity.type | Publication |
Soubory
Původní svazek
1 - 1 z 1