Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Publikace:
Měření tloušťky vrstev a struktury povrchu metodami AFM a STM

Bakalářská práceaccess-status.metadata.listelement.badge
Zobrazit minimální záznam
dc.contributor.advisorVlček, Miroslav
dc.contributor.authorPálka, Karel
dc.date.accepted2007
dc.date.accessioned2007-09-30T13:42:44Z
dc.date.available2007-09-30T13:42:44Z
dc.date.issued2007
dc.description.abstractPředložená bakalářská práce se zabývá technikami AFM a STM a jejich praktickým provedením na přístroji NanoEducator model SPM-U-L5. V teoretické části jsou popsány a vysvětleny hlavní součásti obecné stavby SPM mikroskopu. V experimentální části je studován vliv vybraných parametrů na kvalitu a správnost získaného obrazu.cze
dc.description.departmentKatedra obecné a anorganické chemiecze
dc.description.gradeDokončená práce s úspěšnou obhajoboucze
dc.format56 s.cze
dc.identifierUniverzitní knihovna (sklad)cze
dc.identifier.signatureD17661
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10195/24433
dc.language.isocze
dc.publisherUniverzita Pardubicecze
dc.subjectmikroskopie skenující sondoucze
dc.subjectskenovací tunelová mikroskopiecze
dc.subjectNanoEducatorcze
dc.subjectvrstvycze
dc.subjectMěřenícze
dc.thesis.degree-disciplineChemie a technická chemiecze
dc.thesis.degree-grantorUniverzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologickácze
dc.thesis.degree-nameBc.cze
dc.thesis.degree-programChemie a technická chemiecze
dc.titleMěření tloušťky vrstev a struktury povrchu metodami AFM a STMcze
dc.title.alternativeMeasurement of Film Thickness and Surface Structure Using AFM and STM Methodscze
dc.typebakalářská prácecze
dspace.entity.typePublication

Soubory

Kolekce

Vysokoškolské kvalifikační práce / Theses, dissertations, etc.