Publikace: Měření tloušťky vrstev a struktury povrchu metodami AFM a STM
Bakalářská práceNačítá se...
Datum
Autoři
Pálka, Karel
Název časopisu
ISSN časopisu
Název svazku
Nakladatel
Univerzita Pardubice
Abstrakt
Předložená bakalářská práce se zabývá technikami AFM a STM a jejich praktickým provedením na přístroji NanoEducator model SPM-U-L5. V teoretické části jsou popsány a vysvětleny hlavní součásti obecné stavby SPM mikroskopu. V experimentální části je studován vliv vybraných parametrů na kvalitu a správnost získaného obrazu.
Popis
Klíčová slova
mikroskopie skenující sondou, skenovací tunelová mikroskopie, NanoEducator, vrstvy, Měření