Publikace: Optical properties and surface structuring of Ge20Sb5S75 amorphous chalcogenide thin films deposited by spin-coating and vacuum thermal evaporation
Článekopen accesspeer-reviewedpostprint| dc.contributor.author | Šlang, Stanislav | cze |
| dc.contributor.author | Janíček, Petr | cze |
| dc.contributor.author | Pálka, Karel | cze |
| dc.contributor.author | Loghina, Liudmila | cze |
| dc.contributor.author | Vlček, Miroslav | cze |
| dc.date.accessioned | 2019-05-22T08:17:01Z | |
| dc.date.available | 2019-05-22T08:17:01Z | |
| dc.date.issued | 2018 | eng |
| dc.description.abstract | Thin amorphous films of Ge20Sb5S75 composition have been deposited by spin-coating and vacuum thermal evaporation techniques. Their optical properties were investigated by spectroscopic ellipsometry in UV-NIR spectral region. We report on the comparison of thermo- and photo-induced changes in optical parameters, structure and chemical resistance of studied samples. Induced changes of films structure connected with changes of chemical stability were exploited for their surface structuring by photolithography and electron beam lithography. | eng |
| dc.description.abstract-translated | Tenké amorfní vrstvy složení Ge20Sb5S75 byly deponovány spin-coatingem a vakuovým napařováním. Jejich optické vlastnosti byly zkoumány metodami spektroskopické elipsometrie v UV-NIR spektru. Tato práce je zaměřena na porovnání tepelně a fotoindukovaných změn optických vlastností, struktury a chemické odolnosti studovaných vrstev. Indukované změny struktury vrstev spojené se změnami jejich chemické stability byly využity pro povrchové strukturování pomocí fotolitografie a elektronové litografie. | cze |
| dc.format | p. 310-318 | eng |
| dc.identifier.doi | 10.1016/j.matchemphys.2017.10.025 | eng |
| dc.identifier.issn | 0254-0584 | eng |
| dc.identifier.obd | 39881118 | eng |
| dc.identifier.scopus | 2-s2.0-85031897561 | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/10195/72611 | |
| dc.identifier.wos | 000415771700038 | eng |
| dc.language.iso | eng | eng |
| dc.peerreviewed | yes | eng |
| dc.publicationstatus | postprint | eng |
| dc.publisher | Elsevier Science SA | eng |
| dc.relation.ispartof | Materials Chemistry and Physics, volume 203, issue: January | eng |
| dc.rights | embargoed access | eng |
| dc.subject | Chalcogenide glass thin film | eng |
| dc.subject | Spin-coating | eng |
| dc.subject | Thermal evaporation | eng |
| dc.subject | Electron beam lithography | eng |
| dc.subject | Photolithography | eng |
| dc.subject | tenké vrstvy chalkogenidových skel | cze |
| dc.subject | spin-coating | cze |
| dc.subject | vakuové napařování | cze |
| dc.subject | elektronová litografie | cze |
| dc.subject | fotolitografie | cze |
| dc.title | Optical properties and surface structuring of Ge20Sb5S75 amorphous chalcogenide thin films deposited by spin-coating and vacuum thermal evaporation | eng |
| dc.title.alternative | Optické vlastnosti a strukturování povrchu tenkých amorfních chalkogenidových vrstev Ge20Sb5S75 deponovaných metodami spin-coatingu a vakuového napařování | cze |
| dc.type | Article | eng |
| dspace.entity.type | Publication |
Soubory
Původní svazek
1 - 1 z 1
Načítá se...
- Název:
- Manuscript_NEW.pdf
- Velikost:
- 1.2 MB
- Formát:
- Adobe Portable Document Format
- Popis: