Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Publikace:
Structural origin of surface transformations in arsenic sulfide thin films upon UV-irradiation

ČlánekOmezený přístuppeer-reviewedpreprint
Načítá se...
Náhled

Datum

Autoři

Kovalskiy, Andriy
Vlček, Miroslav
Pálka, Karel
Bůžek, Jan
York-Winegar, James
Oelgoetz, Justin
Golovchak, Roman
Shpotyuk, Oleh
Jain, Himanshu

Název časopisu

ISSN časopisu

Název svazku

Nakladatel

Elsevier Science BV

Výzkumné projekty

Organizační jednotky

Číslo časopisu

Abstrakt

Photostructural transformations within AsxS100-x (x = 30, 33, 35, 40) thin films upon exposure to LED light of different wavelengths, in both air and argon environments have been studied by high resolution XPS, Raman spectroscopy and LEIS methods. These complementary results show that light of energies close to the band gap does not modify chemical composition of the surface, but induces simple photopolymerization reactions. Superbandgap UV light, however, significantly increases S/As ratio on the surface due to formation of S-rich layer under both environmental conditions. It is proposed that photovaporization of both oxide and non-oxide cage-like molecules is responsible for the observed effect.

Popis

Klíčová slova

energy ion-scattering, chalcogenide glasses, photostructural changes, amorphous As2S3, spectroscopy, dependence, wavelength, system, model, atoms, iontový rozptyl, chalkogenidová skla, photostruturní změny, amorfní As2S3, spektroskopie, závislost, vlnová délka, systém, model, atomy

Citace

Permanentní identifikátor

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By