Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Publikace:
Electronic properties of Fe impurities in SnS van der Waals crystals - Revealing high-mobility holes

Článekopen accesspreprint (submitted)
dc.contributor.authorNavrátil, Jiřícze
dc.contributor.authorCaha, Ondřejcze
dc.contributor.authorKopeček, Jaromírcze
dc.contributor.authorČermák, Patrikcze
dc.contributor.authorProkleska, Jancze
dc.contributor.authorHolý, Václavcze
dc.contributor.authorSechovsky, Vladimírcze
dc.contributor.authorBeneš, Ludvíkcze
dc.contributor.authorCarva, Karelcze
dc.contributor.authorHonolka, Jancze
dc.contributor.authorDrašar, Čestmírcze
dc.date.accessioned2025-10-07T10:13:28Z
dc.date.issued2024
dc.description.abstractDefect control is critical to achieve long carrier lifetimes in semiconductors. SnS is a promising thermoelectric and photovoltaic material, in which native defects play a detrimental role, particularly in photovoltaics. In this study, we investigated the Fe-doping of SnS and the interaction of Fe impurities with native defects in a series of single crystals of Sn1-xFexS up to concentrations of x = 0.05. Although the doped single crystals appear rather disordered, the hole mobility is very high (similar to 8500 cm(2)V(-1)s(-1) at 30 K for Sn0.99Fe0.01S), suggesting that holemediated charge transport in this material is largely insensitive to extrinsic impurities. Charge transport analysis suggests that the incorporation of Fe atoms leads to the healing of the intrinsic defect structure and the exclusion of minority electrons from charge transport, allowing the observation of high hole mobility.eng
dc.description.abstract-translatedKontrola defektů je rozhodující pro dosažení dlouhé životnosti nosičů v polovodičích. SnS je slibný termoelektrický a fotovoltaický materiál, ve kterém hrají nativní defekty škodlivou roli, zejména ve fotovoltaice. V této studii jsme zkoumali dopování SnS atomy Fe a interakci příměsí Fe s nativními defekty v sérii monokrystalů Sn1-xFexS až do koncentrace x = 0,05. Přestože se dopované monokrystaly jeví jako značně neuspořádané, pohyblivost děr je velmi vysoká (podobná 8500 cm(2)V(-1)s(-1) při 30 K pro Sn0,99Fe0,01S), což naznačuje, že transport náboje zprostředkovaný dírami je v tomto materiálu do značné míry necitlivý na vnější nečistoty. Analýza transportu náboje naznačuje, že inkorporace atomů Fe vede k zacelení vnitřní defektní struktury a vyloučení minoritních elektronů z transportu náboje, což umožňuje pozorovat vysokou pohyblivost děr.cze
dc.formatp. 117148eng
dc.identifier.doi10.1016/j.mseb.2023.117148
dc.identifier.issn0921-5107
dc.identifier.obd39890168
dc.identifier.scopus2-s2.0-85181775556
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10195/86038
dc.identifier.wos001155796300001
dc.language.isoengeng
dc.peerreviewednoeng
dc.project.IDGA19-13659S/Rozhraní mezi tenkovrstvými chalkogenidy s obsahem železa a izolanty: vliv na strukturu, magnetismus a nekonvenční supravodivost.cze
dc.publicationstatuspreprint (submitted)eng
dc.publisherElsevier Science BVeng
dc.relation.ispartofMaterials Science & Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology, volume 301, issue: March 2024eng
dc.relation.publisherversionhttps://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0921510723008905
dc.rightsopen accesseng
dc.subjectp-type SnSeng
dc.subjectSingle crystaleng
dc.subjectSemiconductoreng
dc.subjectDopingeng
dc.subjectElectrical propertieseng
dc.subjectSnS typu pcze
dc.subjectmonokrystalcze
dc.subjectpolovodičcze
dc.subjectdopovánícze
dc.subjectelektrické vlastnosticze
dc.titleElectronic properties of Fe impurities in SnS van der Waals crystals - Revealing high-mobility holeseng
dc.title.alternativeElektronické vlastnosti Fe nečistot ve van der Waalsových krystalech SnS - Odhalení vysoce pohyblivých děrcze
dc.typearticleeng
dspace.entity.typePublication

Soubory

Původní svazek

Nyní se zobrazuje 1 - 1 z 1
Načítá se...
Náhled
Název:
Fe_SnS_manuscript_MSEBnew.pdf
Velikost:
1.41 MB
Formát:
Adobe Portable Document Format