Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Vyžádat si kopii souboru

Zadejte následující informace, abyste si vyžádali kopii následující záznamy: Different theoretical approaches at optical characterization of randomly rough silicon surfaces covered with native oxide layers

Žádám o kopii následujícího souboru: Ohl-dal_et_al-2018-Surface_and_Interface_Analysis_(1).pdf

Tato e-mailová adresa se používá pro odeslání souboru.
Soubory
Zpět