Atomic layer deposition and characterization of Bi1Se1 thin films

He, Shiyang; Bahrami, Amin; Zhang, Xiang; Cichocka, Magdalena Ola; Yang, Jun; Charvot, Jaroslav; Bureš, Filip; Heckel, Alla; Schulz, Stephan; Nielsch, Kornelius

doi:10.1016/j.jeurceramsoc.2023.04.026

Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Vyžádat si kopii souboru

Zadejte následující informace, abyste si vyžádali kopii následující záznamy: Atomic layer deposition and characterization of Bi1Se1 thin films

Žádám o kopii následujícího souboru: He_JournaloftheEuropeanCeramicChemistry_2023_43_4808.pdf

Zpět