Příprava a charakterizace tenkých vrstev Si3N4

Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.advisor Bouška, Marek
dc.contributor.author Bečvář, Kamil
dc.date.accessioned 2024-07-08T13:54:37Z
dc.date.available 2024-07-08T13:54:37Z
dc.date.issued 2024
dc.date.submitted 2024-04-30
dc.identifier.uri https://hdl.handle.net/10195/83463
dc.description.abstract Diplomová práce se zabývá materiály s fázovou změnou a jejich ochranou pomocí krycí vrstvy. Teoretická část se věnuje samotným materiálům, jejich vlastnostem, fázovým přechodům mezi nimi a jejich využití. Představuje také depoziční techniky pro přípravu tenkých vrstev těchto materiálů. Experimentální část popisuje přípravu a charakterizaci vrstev Si3N4 pro ochranu materiálů s fázovou změnou. Vrstvy byly vytvořeny pomocí magnetronového naprašování a analyzovány spektroskopickou elipsometrií s proměnným úhlem dopadu, infračervenou spektroskopií, skenovací elektronovou mikroskopií s energiově disperzním analyzátorem a mikroskopií atomárních sil. cze
dc.language.iso cze
dc.publisher Univerzita Pardubice cze
dc.rights Bez omezení
dc.subject materiály s fázovou změnou cze
dc.subject tenké vrstvy cze
dc.subject magnetronové naprašování cze
dc.subject Si3N4 cze
dc.subject phase change materials eng
dc.subject thin films eng
dc.subject magnetron sputtering eng
dc.subject Si3N4 eng
dc.title Příprava a charakterizace tenkých vrstev Si3N4 cze
dc.title.alternative Preparation and characterization of Si3N4 thin films eng
dc.type diplomová práce cze
dc.contributor.referee Střižík, Lukáš
dc.date.accepted 2024-06-04
dc.description.abstract-translated The master's thesis deals with phase change materials and their protection through a capping layer. The theoretical part deals with the materials themselves, their properties, phases, transition between them, and their use. It also presents deposition techniques for the preparation of thin films of these materials. The experimental part describes the preparation and characterization of Si3N4 layers for the protection of phase change materials. The layers were formed by magnetron sputtering and analyzed by variable angle spectroscopic ellipsometry, infrared spectroscopy, scanning electron microscopy with an energy dispersive spectrometer, and atomic force microscopy. eng
dc.description.department Fakulta chemicko-technologická cze
dc.thesis.degree-discipline Polygrafie cze
dc.thesis.degree-name Ing.
dc.thesis.degree-grantor Univerzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologická cze
dc.thesis.degree-program Polygrafie cze
dc.description.defence <p>doc. ing. Tomáš Syrový, Ph.D. - Zodpovězte otázky oponenta</p> <p>prof. Ing. Petr Němec, Ph.D. - Jakou techniku byste použil, abyste prokázal, že jsou vzorky amorfní? Myslíte, že Telur se neoxiduje? Jaká byla směrodatná odchylka hodnot drsnosti?</p> <p>doc. Ing. Tomáš Syrový, Ph.D. - Jaké jsou limity rychlosti přechodu těchto fází?</p> <p>ing. Bohumil Jašúrek, Ph.D. - Používají se ke stejnému účelu jiné materiály než Si3N4?</p> <p>prof. Ing. Petr Němec, Ph.D. - Viděl jste trend mez průtokem dusíku a výsledným složením?&nbsp;</p> cze
dc.identifier.stag 48412
dc.description.grade Dokončená práce s úspěšnou obhajobou cze


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam

Vyhledávání


Rozšířené hledání

Procházet

Můj účet