Formation of oriented layered MoS2 from amorphous thin film revealed by polarized x-ray absorption spectroscopy

Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.author Krbal, Miloš
dc.contributor.author Přikryl, Jan
dc.contributor.author Prokop, Vít
dc.contributor.author Píš, Igor
dc.contributor.author Bondino, Federica
dc.contributor.author Kolobov, Alexander
dc.date.accessioned 2023-07-12T13:03:28Z
dc.date.available 2023-07-12T13:03:28Z
dc.date.issued 2022
dc.identifier.issn 0003-6951
dc.identifier.uri https://hdl.handle.net/10195/81067
dc.description.abstract MoS2 is a prototypical two-dimensional van der Waals (vdW) solid, where covalently bonded S–Mo–S triplets are held together by weaker vdW forces. In this work, we have studied structural transformation from a three-dimensional amorphous phase of MoS2 into a layered vdW crystal using S L2;3 edge x-ray absorption near-edge structure (XANES) spectroscopy with in-plane and out-of-plane polarized x-ray beam. The crystallization process, which starts from an isotropic amorphous phase, is accompanied by the establishment of vdW interaction between covalently bonded layers, resulting in the anisotropic nature of the crystalline phase. We have disclosed that the preferential growth of MoS2 layers along the (200) Bragg reflection commences immediately from the amorphous phase with no intermediate crystal orientations. We have additionally identified a unique signature in the S L2;3 edge spectrum that is associated with vdW bonds and can be possibly used to determine sulfur-based single-layered and multi-layered transition metal dichalcogenides. eng
dc.format article 192105 eng
dc.language.iso eng
dc.relation.ispartof Applied Physics Letters, volume 121, issue: 19 eng
dc.rights open access (green) eng
dc.subject thin films eng
dc.subject polarized X-ray absorption spectroscopy eng
dc.subject MoS2 eng
dc.subject local structure eng
dc.subject crystallization eng
dc.subject van der Waals gap eng
dc.subject tenké vrstvy cze
dc.subject polarizovaná RTG absorpční spektroskopie cze
dc.subject MoS2 cze
dc.subject lokální struktura cze
dc.subject krystalizace cze
dc.subject van der Waalsova mezera cze
dc.title Formation of oriented layered MoS2 from amorphous thin film revealed by polarized x-ray absorption spectroscopy eng
dc.title.alternative Vznik orientovaného vrstveného MoS2 z amorfního tenkého filmu odhalený polarizovanou rentgenovou absorpční spektroskopií cze
dc.type article eng
dc.description.abstract-translated MoS2 je typická dvourozměrná pevná látka s van der Waalsovou (vdW) vazbou, kde kovalentně vázané triplety S–Mo–S drží pohromadě slabší vdW síly. V této práci jsme studovali strukturní transformaci z trojrozměrné amorfní fáze MoS2 na vrstvený vdW krystal pomocí spektroskopie rentgenové absorpční struktury blízké hrany (XANES) při absorpční hraně S L2,3 s polarizovaným rentgenovým paprskem v rovině a mimo rovinu. Proces krystalizace, který začíná z izotropní amorfní fáze, je doprovázen ustavením interakce vdW mezi kovalentně vázanými vrstvami, což má za následek anizotropní povahu krystalické fáze. Zjistili jsme, že preferenční růst vrstev MoS2 podél (200) Braggova odrazu začíná okamžitě od amorfní fáze bez dalších krystalových orientací. Dále jsme identifikovali jedinečný podpis ve spektru absorpční hrany S L2;3, který je spojen s vdW vazbami a může být potenciálně použit ke stanovení jednovrstvých a vícevrstvých dichalkogenidů přechodných kovů na bázi síry. cze
dc.peerreviewed yes eng
dc.publicationstatus postprint eng
dc.identifier.doi 10.1063/5.0106886
dc.relation.publisherversion https://aip.scitation.org/doi/10.1063/5.0106886
dc.identifier.wos 000880805900017
dc.identifier.scopus 2-s2.0-85143252845
dc.identifier.obd 39887798


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam

Vyhledávání


Rozšířené hledání

Procházet

Můj účet