Vývoj metody pro stanovení nízkých obsahů nečistot v čistých sloučeninách manganu

Abstract

Práce je zaměřena na možnosti stanovení stopových množství prvků ve vzorcích s obsahujících velký přebytek prvků s bohatými emisními spektry. Zabývá se spektrálními a nespektrálními interferencemi a způsoby jejich eliminace. Je vyvinuta metoda pro analýzu velmi nízkých koncentrací vybraných nečistot (Ca, K, Na, Fe, Mg, Zn, Cu) ve velmi čistém síranu manganatém pro výrobu baterií MnSO4 s využitím optické emisní spektrometrie s buzením v indukčně vázaném plazmatu vhodná pro rutinní použití.