Structure and properties of spin-coated Ge25S75 chalcogenide thin films

Show simple item record

dc.contributor.author Šlang, Stanislav cze
dc.contributor.author Janíček, Petr cze
dc.contributor.author Pálka, Karel cze
dc.contributor.author Vlček, Miroslav cze
dc.date.accessioned 2017-05-11T11:10:32Z
dc.date.available 2017-05-11T11:10:32Z
dc.date.issued 2016 eng
dc.identifier.issn 2159-3930 eng
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10195/67593
dc.description.abstract Amorphous chalcogenide thin films of Ge25S75 composition have been deposited by spin-coating technique. Optical properties of thin films were investigated by spectroscopic ellipsometry in UV-MIR spectral range. Obtained results prove an increase of the thin films refractive index in the transparent region and a decrease of their thickness with increasing annealing temperature implying densification of the glass structure. Short wavelength absorption edge is shifting to lower energies (red shift) with increasing annealing temperature. Decreasing organic molecules content with increasing temperature of annealing was observed in MIR part of extinction coefficient and verified by Raman spectroscopy and EDS. Raman spectra also gave evidence of thermo-induced structural polymerization and decomposition of organic salts molecules yielding thin films with structure similar to the structure of the source bulk glass. eng
dc.format p. 1973-1985 eng
dc.language.iso eng eng
dc.relation.ispartof Optical Materials Express, volume 6, issue: 6 eng
dc.rights open access eng
dc.subject Glass and other amorphous materials eng
dc.subject Thin films, optical properties eng
dc.subject Thin films, other properties eng
dc.subject Ellipsometry and polarimetry eng
dc.subject Skelné a další amorfní materiály cze
dc.subject Tenké vrstvy, optické vlastnosti cze
dc.subject Tenké vrstvy, další vlastnosti cze
dc.subject Elipsometrie a polarimetrie cze
dc.title Structure and properties of spin-coated Ge25S75 chalcogenide thin films eng
dc.title.alternative Struktura a vlastnosti spin-coatingem deponovaných tenkých chalkogenidových vrstev Ge25S75 cze
dc.type article eng
dc.description.abstract-translated Amorfní chalkogenidové vrstvy složení Ge25S75 byly deponovány metodou spin-coatingu. Optické vlastnosti tenkých vrstev byly zkoumány metodou spektroskopické elipsometrie v UV-MIR spektrálním rozsahu. Získané výsledky potvrdily nárůst indexu lomu tenkých vrstev v jejich transparentní oblasti a pokles jejich tloušťky s rostoucí teplotou temperace, což naznačuje zhutňování jejich skelné struktury. Krátkovlnná absorpční hrana se posunuje směrem k nižším energiím (červený posun) s rostoucí teplotou temperace. S rostoucí teplotou temperace vrstev byl dále zjištěn pokles obsahu organických molekul z MIR části extinkčního koeficientu, což bylo potvrzeno i metodou Ramanovy spektroskopie a EDS. Ramanova spektra dále poskytla důkaz tepelně indukované strukturální polymerizace a rozkladu molekul organických solí za vzniku tenkých vrstev se strukturou podobnou struktuře výchozího objemového skla. cze
dc.peerreviewed yes eng
dc.publicationstatus postprint eng
dc.identifier.doi 10.1364/OME.6.001973 eng
dc.identifier.wos 000377507100021
dc.identifier.scopus 2-s2.0-84981537867
dc.identifier.obd 39877325 eng


This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account