Příprava a charakterizace tenkých vrstev systému Ge-Sb-S
Diplomová práceOmezený přístupDatum publikování
2015
Autoři
Vedoucí práce
Oponent
Název časopisu
Název svazku
Vydavatel
Univerzita Pardubice
Abstrakt
Tato diplomová práce se zabývá studiem optických vlastností vakuově napařených tenkých vrstev chalkogenidových skel systému Ge20SbxS80-x, kde x = 5, 10, 15, 20 a systému GexSb35-xS65, kde x = 10, 15, 20 a jejich změn indukovaných expozicí a temperací. Jejich podstata je studována s využitím Ramanovy spektroskopie, kvalita připravených vrstev je studována metodou AFM
Rozsah stran
49 s.
ISSN
Trvalý odkaz na tento záznam
Projekt
Zdrojový dokument
Vydavatelská verze
Přístup k e-verzi
Práce není přístupná
Název akce
ISBN
Studijní obor
Materiálové inženýrství
Studijní program
Chemie a technologie materiálů
Signatura tištěné verze
D32937
Umístění tištěné verze
Univerzitní knihovna (studovna)
Přístup k tištěné verzi
Klíčová slova
chalcogenide glasses, amorphous thin layers, optical properties, Raman spectra, chalkogenidová skla, amorfní tenké vrstvy, optické vlastnosti, Ramanova spektra