Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz

Show simple item record

dc.contributor.author Zuzánek, Lukáš
dc.date.accessioned 2014-02-11T14:05:52Z
dc.date.available 2014-02-11T14:05:52Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.isbn 978-80-7395-735-3
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10195/54199
dc.description.abstract Článek se zabývá rentgenovou difrakční metodou Debyeovou-Scherrerovou na zpětný odraz a její využití. Metoda slouží k hodnocení povrchové vrstvy v hloubce několika μm. Jedná se o nedestruktivní zkoušky polykrystalického materiálu bez nutnosti speciální přípravy povrchu. Princip spočívá v dopadu monochromatických paprsků na zkušební vzorek, kde dochází k difrakci rentgenového záření a následně toto záření detekuje na paměťovou fólii. Pomocí skeneru získáme z paměťové fólie difraktogram dávající základní informace o stavu krystalové mřížky. V závislosti na spojitosti a pravidelnosti difrakční linie zobrazené na difraktogramu lze zjistit přítomnost textury a kvantitativní představu o velikosti zrn. Metoda se využívá při analýze teplotně ovlivněné oblasti a stanovení nehomogenit v okolí svárů, dále při stanovení stupně plastické deformace po tváření a určení stupně rekrystalizace po tepelném zpracování. Výhodou metody je možnost měření tvarově složitých a velkých vzorků. cze
dc.format p. 50-54 eng
dc.language cze
dc.publisher Univerzita Pardubice
dc.rights open access eng
dc.subject rentgenová difrakce cze
dc.subject Debyeova-Scherrerova metoda cze
dc.subject textury cze
dc.subject velikost zrna cze
dc.title Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz cze
dc.type ConferenceObject eng
dc.event TechMat ´13. Perspektivní technologie a materiály pro technické aplikace (21th November 2013, Svitavy, Czech Republic)
dc.publicationstatus published eng


This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account