Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz

Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.author Zuzánek, Lukáš
dc.date.accessioned 2014-02-11T14:05:52Z
dc.date.available 2014-02-11T14:05:52Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.isbn 978-80-7395-735-3
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10195/54199
dc.description.abstract Článek se zabývá rentgenovou difrakční metodou Debyeovou-Scherrerovou na zpětný odraz a její využití. Metoda slouží k hodnocení povrchové vrstvy v hloubce několika μm. Jedná se o nedestruktivní zkoušky polykrystalického materiálu bez nutnosti speciální přípravy povrchu. Princip spočívá v dopadu monochromatických paprsků na zkušební vzorek, kde dochází k difrakci rentgenového záření a následně toto záření detekuje na paměťovou fólii. Pomocí skeneru získáme z paměťové fólie difraktogram dávající základní informace o stavu krystalové mřížky. V závislosti na spojitosti a pravidelnosti difrakční linie zobrazené na difraktogramu lze zjistit přítomnost textury a kvantitativní představu o velikosti zrn. Metoda se využívá při analýze teplotně ovlivněné oblasti a stanovení nehomogenit v okolí svárů, dále při stanovení stupně plastické deformace po tváření a určení stupně rekrystalizace po tepelném zpracování. Výhodou metody je možnost měření tvarově složitých a velkých vzorků. cze
dc.format p. 50-54 eng
dc.language cze
dc.publisher Univerzita Pardubice
dc.rights open access eng
dc.subject rentgenová difrakce cze
dc.subject Debyeova-Scherrerova metoda cze
dc.subject textury cze
dc.subject velikost zrna cze
dc.title Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz cze
dc.type ConferenceObject eng
dc.event TechMat ´13. Perspektivní technologie a materiály pro technické aplikace (21th November 2013, Svitavy, Czech Republic)
dc.publicationstatus published eng


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam

Vyhledávání


Rozšířené hledání

Procházet

Můj účet