Měření tloušťky vrstev a struktury povrchu metodami AFM a STM

dc.contributor.advisor	Vlček, Miroslav
dc.contributor.author	Pálka, Karel
dc.date.accessioned	2007-09-30T13:42:44Z
dc.date.available	2007-09-30T13:42:44Z
dc.date.issued	2007
dc.identifier	Univerzitní knihovna (sklad)	cze
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10195/24433
dc.description.abstract	Předložená bakalářská práce se zabývá technikami AFM a STM a jejich praktickým provedením na přístroji NanoEducator model SPM-U-L5. V teoretické části jsou popsány a vysvětleny hlavní součásti obecné stavby SPM mikroskopu. V experimentální části je studován vliv vybraných parametrů na kvalitu a správnost získaného obrazu.	cze
dc.format	56 s.	cze
dc.language.iso	cze
dc.publisher	Univerzita Pardubice	cze
dc.subject	mikroskopie skenující sondou	cze
dc.subject	skenovací tunelová mikroskopie	cze
dc.subject	NanoEducator	cze
dc.subject	vrstvy	cze
dc.subject	Měření	cze
dc.title	Měření tloušťky vrstev a struktury povrchu metodami AFM a STM	cze
dc.title.alternative	Measurement of Film Thickness and Surface Structure Using AFM and STM Methods	cze
dc.type	bakalářská práce	cze
dc.date.accepted	2007
dc.description.department	Katedra obecné a anorganické chemie	cze
dc.thesis.degree-discipline	Chemie a technická chemie	cze
dc.thesis.degree-name	Bc.	cze
dc.thesis.degree-grantor	Univerzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologická	cze
dc.identifier.signature	D17661
dc.thesis.degree-program	Chemie a technická chemie	cze
dc.description.grade	Dokončená práce s úspěšnou obhajobou	cze