Publikace: Charakterizace tenkých vrstev a objemových polovodičů
Habilitační práceNačítá se...
Datum
Autoři
Janíček, Petr
Název časopisu
ISSN časopisu
Název svazku
Nakladatel
Univerzita Pardubice
Abstrakt
Předložená práce je rozdělená na dvě části. První část práce je věnována elektroskopické elipsometrii a jejímu využití pro studium materiálů, ať už ve formě objemových skel, tak zejména ve formě tenkých vrstev, multivrstev, případně složitějších struktur. V habilitační práci je ukázáno využití a přínos této metody pro objemové materiály (konkrétně pro flourovaný ethylen-propylen), tenké vrstvy (konkrétně pro vrstvu zlata naprášenou na skleněný, resp. plastový substrát, dále pro vrstvy nanokrystalického diamantu, amorfního chalkogenidu o složení Ge25S75, organického polovodiče PEDOT:PSS a ZnO dopovaného cínem) a složitější případy (konkrétně nehomogenní průběh optických vlastností při studiu vrstev amorfních chalkogenidů o složení As35S65 a As42Se58). Druhá část práce se věnuje výsledkům výzkumu vybraných polykrystalických objemových polovodičů (konkrétně SnSe dopovaného Tl a CuInTe2) pro termoelektrické aplikace.
Popis
Klíčová slova
spektroskopická elipsometrie, optické konstanty, index lomu, extinkční koeficient, tenké vrstvy, objemové polovodiče, termoelektrické vlastnosti, spectroscopic ellipsometry, optical constants, refraction index, extinction coefficient, thin films, bulk semiconductors, thermoelectric properties