Studium vybraných vlastností a struktury objemových nekrystalických materiálů a tenkých filmů

Abstract

Disertační práce je zaměřena na charakterizaci vlastností chalkogenidových skel a tenkých vrstev, které jsou obecně studovány pro využití především v oblasti optiky, elektroniky a mikroelektroniky. Z připravených objemových skel systémů Ge30Se70-xAsx, Ge30Se70-xInx, Ge30Se70-xTex byly metodou termického napařování připraveny tenké filmy, které byly charakterizovány a studovány. K charakterizaci získaných objemových vzorků i tenkých filmů byla použita řada metod. Pomocí rentgenové difrakční analýzy byla zjišťována nepřítomnost krystalické fáze. Složení objemových vzorků skel a tenkých filmů bylo kontrolováno pomocí energiově disperzní analýzy. Struktura připravených objemových skel a tenkých filmů byla popsána a rovněž pomocí Ramanovy spektroskopie. U připravených chalkogenidových skel byla určena teplota skelné transformace, která souvisí s rigiditou systému. Důležitými parametry byly i zjištěné optické vlastností tenkých filmů. Rovněž bylo studováno stárnutí tenkých filmů za různých experimentálních podmínek. Jako modelový tenkých film byl připraven a studován tenký film o složení (GeS2)0.8(Sb2S3)0.2. Toto složení bylo vybráno s ohledem na jeho snadnou přípravu a aplikovatelnost. Důvodem tohoto studia byl fakt, že stárnutí tenkých filmů rozhodujícím způsobem ovlivňuje jejich aplikovatelnost. Zjištěná experimentální data jsou diskutována pomocí publikovaných výsledků.