Publikace: Prvková analýza práškových vzorků ve formě tenké vrstvy pomocí LIBS spektrometrie
Diplomová práceOmezený přístupNačítá se...
Datum
Autoři
Kratochvíl, Tomáš
Název časopisu
ISSN časopisu
Název svazku
Nakladatel
Univerzita Pardubice
Abstrakt
Práce se zabývá využitím spektroskopie laserem buzeného mikroplazmatu (LIBS) pro prvkovou kvantitativní analýzu práškových vzorků ve formě tenké vrstvy.
Popis
Klíčová slova
LIBS, hexagonální mezoporézní silika, vanad, tenká vrstva, LIBS, hexagonal mezoporous silica, vanadium, thin layer