Digitální knihovna UPCE přechází na novou verzi. Omluvte prosím případné komplikace. / The UPCE Digital Library is migrating to a new version. We apologize for any inconvenience.

Publikace:
Příprava a charakterizace tenkých vrstev systému Ge-Sb-S

Diplomová práceOmezený přístup
dc.contributor.advisorVlček, Miroslavcze
dc.contributor.authorKochánková, Alena
dc.contributor.refereeJaníček, Petrcze
dc.date.accepted2015cze
dc.date.accessioned2015-09-27T10:31:38Z
dc.date.available2015-09-27T10:31:38Z
dc.date.embargo2035-05-07cze
dc.date.issued2015
dc.description.abstractTato diplomová práce se zabývá studiem optických vlastností vakuově napařených tenkých vrstev chalkogenidových skel systému Ge20SbxS80-x, kde x = 5, 10, 15, 20 a systému GexSb35-xS65, kde x = 10, 15, 20 a jejich změn indukovaných expozicí a temperací. Jejich podstata je studována s využitím Ramanovy spektroskopie, kvalita připravených vrstev je studována metodou AFMcze
dc.description.abstract-translatedThis thesis deals with the study of the optical properties of chalcogenide glasses thin films in systems Ge20SbxS80-x (x = 5, 10, 15, 20) and GexSb35-xS65 (x = 10, 15, 20), which were prepared by vacuum evaporation method and their changes induced by the exposure and by the annealing. Their structure is studied by Raman spectroscopy and the quality of the prepared films is studied using the AFM method.eng
dc.description.defenceDiplomantka seznámila komisi se svojí diplomovou prací.Dále reagovala na připomínky oponenta. Zodpověděla otázky členů komise: Jak byly připraveny tenké vrstvy a jak byla stanovena jejich tlouaťka? Diskutujte DTA křivku tenké vrstvy. Co způsobuje zvýaení hodnoty optické aířky zakázaného pásu při temperaci i expozici?cze
dc.description.departmentKatedra obecné a anorganické chemiecze
dc.description.gradeDokončená práce s úspěšnou obhajoboucze
dc.format49 s.cze
dc.format.extent381415 bytescze
dc.format.mimetypeapplication/pdfcze
dc.identifierUniverzitní knihovna (studovna)cze
dc.identifier.signatureD32937cze
dc.identifier.stag27095cze
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10195/61232
dc.language.isocze
dc.publisherUniverzita Pardubicecze
dc.rightsPráce není přístupnácze
dc.subjectchalcogenide glassescze
dc.subjectamorphous thin layerscze
dc.subjectoptical propertiescze
dc.subjectRaman spectracze
dc.subjectchalkogenidová sklacze
dc.subjectamorfní tenké vrstvycze
dc.subjectoptické vlastnosticze
dc.subjectRamanova spektracze
dc.thesis.degree-disciplineMateriálové inženýrstvícze
dc.thesis.degree-grantorUniverzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologickácze
dc.thesis.degree-nameIng.cze
dc.thesis.degree-programChemie a technologie materiálůcze
dc.titlePříprava a charakterizace tenkých vrstev systému Ge-Sb-Scze
dc.title.alternativePreparation and characterisation of thin films in Ge-Sb-S systemeng
dc.typediplomová prácecze
dspace.entity.typePublication

Soubory

Původní svazek

Nyní se zobrazuje 1 - 3 z 3
Načítá se...
Náhled
Název:
KochankovaA_PripravaAcharakterizace_MV_2015.pdf
Velikost:
372.48 KB
Formát:
Adobe Portable Document Format
Popis:
diplomová práce
Načítá se...
Náhled
Název:
VlcekM_PripravaAcharakterizace_AK_2015.pdf
Velikost:
784.93 KB
Formát:
Adobe Portable Document Format
Popis:
posudek vedoucího
Načítá se...
Náhled
Název:
Oponentni posudek.pdf
Velikost:
1.35 MB
Formát:
Adobe Portable Document Format
Popis:
posudek oponenta