Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy

Hawlová, Petra

Publikace:
Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy

Disertační práceopen access

dc.contributor.author	Hawlová, Petra
dc.contributor.referee	Kolská, Zdeňka
dc.contributor.referee	Koudelka, Ladislav
dc.contributor.referee	Švorčík, Václav
dc.date.accepted	2017-11-21
dc.date.accessioned	2017-12-04T07:14:58Z
dc.date.available	2017-12-04T07:14:58Z
dc.date.issued	2017
dc.date.submitted	2017-08-21
dc.description.abstract	Disertační práce se zabývá přípravou a studiem objemových materiálů a amorfních tenkých vrstev systému Ge-As-Te. Tenké vrstvy byly připraveny technikou pulzní laserové depozice. Připravené tenké vrstvy a objemové vzorky byly studovány pomocí skenovacího elektronového mikroskopu s energiově-disperzním rentgenovým analyzátorem, Ramanovou spektroskopií, rentgenovou difrakcí, mikroskopií atomárních sil, diferenční skenovací kalorimetrií, hmotnostní spektrometrií LDI-TOF MS, měření povrchového napětí metodou přisedlé kapky a měření hustoty hydrostatickou metodou. Pomocí spektrální elipsometrie s proměnným úhlem dopadu byla studována fotostabilita vrstev jak v reverzibilním, tak i v ireverzibilním režimu.	cze
dc.description.abstract-translated	The dissertation thesis studied the bulk materials and the amorphous thin layers of the Ge-As-Te system. Thin layers were prepared by pulsed laser deposition. The prepared thin films and bulk samples were studied by scanning electron microscope with the energy dispersion X-ray analyzer, Raman spectroscopy, X-ray diffraction, atomic force microscopy, differential scanning calorimetry, LDI-TOF MS mass spectrometry, measurement of surface tension and density measurement. By the spectroscopic ellipsometry with a variable angle of incidence were studied photostability of thin films in reversible and irreversible mode.	eng
dc.description.department	Fakulta chemicko-technologická	cze
dc.description.grade	Dokončená práce s úspěšnou obhajobou	cze
dc.format	111 s.
dc.identifier	Univerzitní knihovna (studovna)
dc.identifier.signature	D37170
dc.identifier.stag	34741
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/10195/69676
dc.language.iso	cze
dc.publisher	Univerzita Pardubice	cze
dc.rights	bez omezení	cze
dc.subject	amorfní chalkogenidy	cze
dc.subject	GeAsTe	cze
dc.subject	fotoindukované jevy	cze
dc.subject	fotostabilita	cze
dc.subject	pulzní laserová depozice	cze
dc.subject	spektrální elipsometrie	cze
dc.subject	amorphous chalcogenides	eng
dc.subject	GeAsTe	eng
dc.subject	photoinduced phenomena	eng
dc.subject	photostability	eng
dc.subject	pulsed laser deposition	eng
dc.subject	spectroscopic ellipsometry	eng
dc.thesis.degree-discipline	Povrchové inženýrství	cze
dc.thesis.degree-grantor	Univerzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologická	cze
dc.thesis.degree-name	Ph.D.
dc.thesis.degree-program	Chemie a technologie materiálů	cze
dc.title	Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy	cze
dc.title.alternative	Amorphous chalcogenide thin films	eng
dc.type	disertační práce	cze
dspace.entity.type	Publication