Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy systému As-S-Se připravené metodou spin-coating

Abstract

Byly syntetizovány objemové vzorky CHS systému As33S67-xSex a rozpuštěny v aminu. Metodou spin-coating byly z těchto reztoků připraveny tenké vrstvy, jejichž fyzikálně-chemické vlastnosti byly analyzovány metodami: EDX-SEM, Ramanova spektroskopie, UV-VIS-NIR, MIR a VASE spektroskopie, MDSC, DTA, TGA, AFM, H-NMR, DLS. Zhotovení difrakční mřížky nebo ID-PBG krystalů na bázi alternujících tenkých vrstev o složení As-Se + PAI a As-Se + PVB s reflexí v NIR oblasti elektromagnetického spektra jako potenciální aplikace těchto materiálů v optoelektronice.