Digitální knihovna UPCE
→
Prohlížení dle předmětu

Prohlížení dle předmětu "spektroskopická elipsometrie"

Zobrazují se záznamy 1-6 z 6

Název: Charakterizace tenkých vrstev a objemových polovodičů Typ: habilitační práce Autor: Janíček, Petr Datum: 2019

Název: Low-temperature growth of crystalline Tin(II) monosulfide thin films by atomic layer deposition using a liquid divalent tin precursor Typ: article Autor: Ansari, Mohd Zahid; Janíček, Petr; Nandi, Dip K; Šlang, Stanislav; Bouška, Marek; Oh, Hongjun; Shong, Bonggeun; Kim, Soo-Hyun Datum: 2021

Název: Optical, electrical and morphological study of PEDOT:PSS single layers spiral-bar coated with various secondary doping solvents Typ: article Autor: Syrový, Tomáš; Janíček, Petr; Mistrík, Jan; Pálka, Karel; Hawlová, Petra; Kubáč, Lubomír; Gunde, Marta Datum: 2017

Název: Pokročilé spektroskopické metody v klinické biochemii Typ: bakalářská práce Autor: Arellano Herencia, Fresia Esther Datum: 2014

Název: Příprava a charakterizace tenkých polymerních vrstev metodou spin-coating Typ: diplomová práce Autor: Vrážel, Martin Datum: 2020

Název: Studium chalkogenidů s potenciálními aplikacemi v mikro- a nano- optice Typ: disertační práce Autor: Orava, Jiří Datum: 2009

Zobrazují se záznamy 1-6 z 6

Vyhledávání

Rozšířené hledání

Procházet

Vše v Digitální knihovně

Můj účet

Přihlásit se