Digitální knihovna UPCE
→
Prohlížení dle předmětu

Prohlížení dle předmětu "ellipsometry analysis"

Zobrazují se záznamy 1-1 z 1

Název: Influence of post-annealing on structural, optical and electrical properties of tin nitride thin films prepared by atomic layer deposition Typ: article Autor: Ansari, Mohd Zahid; Janíček, Petr; Nandi, Dip K; Pálka, Karel; Šlang, Stanislav; Kim, Deok Hyun; Cheon, Taehoon; Kim, Soo-Hyun Datum: 2021

Zobrazují se záznamy 1-1 z 1

Vyhledávání

Rozšířené hledání

Procházet

Vše v Digitální knihovně

Můj účet

Přihlásit se