Digitální knihovnaUPCE
 

Employing Quantile and Probability Plots for Comparing and Assessing Goodness of Fit for Stochastic Models of the DCT Coefficients of Lossy Compressed Images

Konferenční objektOmezený přístuppeer-reviewedpostprint
Náhled

Datum publikování

2023

Autoři

Kotov, Dmytro
Fedorov, Oleksii
Omelchenko, Anatolii
Pidanič, Jan
Doležel, Petr

Vedoucí práce

Oponent

Název časopisu

Název svazku

Vydavatel

IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)

Abstrakt

The paper employs probability plots to performgoodness of fit tests for AC DCT coefficients of compressed images. Attention is paid to various probabilistic models of the DCT coefficients, conventional and rarely used. The Laplacian, generalized Gaussian and doubly Gamma distributions comprise the list. A variation of the method of moments, which involves the 2nd and 4th sample moments as well as Sheppard’s corrections to estimate the shape and scale parameters of the distributions is used. Two types of images are considered, namely, texturelike images and those possessing vast regions of monotonicity. Special effort has been put into adjusting the apparatus of the probability plots to make them suitable for dealing with discrete data, in our case with the quantized DCT coefficients of lossy compressed images. As the source of the DCT coefficients, JPEG images are used. This does not lead us to a significant loss of generality: conclusions drawn in this paper remain applicable to a broad variety of formats of lossy compressed images.

Rozsah stran

p. 1-4

ISSN

Trvalý odkaz na tento záznam

Projekt

SGS_2023_016/Výzkum a vývoj nových algoritmů, postupů a metod v oblasti detekce, lokalizace, identifikace a klasifikace objektů využitím strojového učení a prvků umělé inteligence pro oblast radarové techniky, dopravy a výrobních technologií

Zdrojový dokument

33rd International Conference Radioelektronika, Radioelektronika 2023

Vydavatelská verze

https://ieeexplore.ieee.org/document/10109081

Přístup k e-verzi

Práce není přístupná

Název akce

33rd International Conference Radioelektronika, RADIOELEKTRONIKA 2023 (19.05.2023 - 20.05.2023, Pardubice)

ISBN

979-8-3503-9834-2

Studijní obor

Studijní program

Signatura tištěné verze

Umístění tištěné verze

Přístup k tištěné verzi

Klíčová slova

Q-Q plot, P-P plot, goodness of fit, lossy compression, JPEG, stochastic model, test

Endorsement

Review

item.page.supplemented

item.page.referenced