Employing Quantile and Probability Plots for Comparing and Assessing Goodness of Fit for Stochastic Models of the DCT Coefficients of Lossy Compressed Images
Konferenční objektOmezený přístuppeer-reviewedpostprintDatum publikování
2023
Autoři
Kotov, Dmytro
Fedorov, Oleksii
Omelchenko, Anatolii
Pidanič, Jan
Doležel, Petr
Vedoucí práce
Oponent
Název časopisu
Název svazku
Vydavatel
IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
Abstrakt
The paper employs probability plots to performgoodness of fit tests for AC DCT coefficients of compressed images. Attention is paid to various probabilistic models of the DCT coefficients, conventional and rarely used. The Laplacian, generalized Gaussian and doubly Gamma distributions comprise the list. A variation of the method of moments, which involves the 2nd and 4th sample moments as well as Sheppard’s corrections to estimate the shape and scale parameters of the distributions is used. Two types of images are considered, namely, texturelike images and those possessing vast regions of monotonicity. Special effort has been put into adjusting the apparatus of the probability plots to make them suitable for dealing with discrete data, in our case with the quantized DCT coefficients of lossy compressed images. As the source of the DCT coefficients, JPEG images are used. This does not lead us to a significant loss of generality: conclusions drawn in this paper remain applicable to a broad variety of formats of lossy compressed images.
Rozsah stran
p. 1-4
ISSN
Trvalý odkaz na tento záznam
Projekt
SGS_2023_016/Výzkum a vývoj nových algoritmů, postupů a metod v oblasti detekce, lokalizace, identifikace a klasifikace objektů využitím strojového učení a prvků umělé inteligence pro oblast radarové techniky, dopravy a výrobních technologií
Zdrojový dokument
33rd International Conference Radioelektronika, Radioelektronika 2023
Vydavatelská verze
https://ieeexplore.ieee.org/document/10109081
Přístup k e-verzi
Práce není přístupná
Název akce
33rd International Conference Radioelektronika, RADIOELEKTRONIKA 2023 (19.05.2023 - 20.05.2023, Pardubice)
ISBN
979-8-3503-9834-2
Studijní obor
Studijní program
Signatura tištěné verze
Umístění tištěné verze
Přístup k tištěné verzi
Klíčová slova
Q-Q plot, P-P plot, goodness of fit, lossy compression, JPEG, stochastic model, test