Diplomová práce se zabývá návrhem a konstrukcí komplexního automatizovaného systém pro měření, zobrazení a následné zpracování charakteristik NPN bipolárních tranzistorů. Práce je rozdělena na teoretickou a praktickou část. Teoretická část se zabývá problematikou měření V-A charakteristik a na trhu dostupnými řešeními. Praktická část obsahuje popis konkrétních obvodových řešení použitých v projektu, vývojové diagramy a náhled do programového vybavení řídicích obvodů a aplikace pro PC. Závěr praktické části se věnuje měření charakteristik realizovaných obvodů a zkušebnímu měření vybraných tranzistorů.
