A Simple and Easy Way to Enhance Sensitivity of Sn(IV) on Bismuth Film Electrodes with the Use of a Mediator

Show simple item record

dc.contributor.author Tyszczuk-Rotko, Katarzyna cze
dc.contributor.author Metelka, Radovan cze
dc.contributor.author Vytřas, Karel cze
dc.contributor.author Barczak, Mariusz cze
dc.contributor.author Sadok, Ilona cze
dc.contributor.author Miroslaw, Barbara cze
dc.date.accessioned 2017-09-19T11:59:10Z
dc.date.available 2017-09-19T11:59:10Z
dc.date.issued 2016 eng
dc.identifier.issn 0026-9247 eng
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10195/69560
dc.description.abstract For the first time an in situ-plated bismuth film electrode prepared with the use of a reversibly deposited mediator (Zn) was applied to anodic stripping voltammetry of the metal ions. This simple and easy way of the electrode surface modification by metal films was suggested to increase the voltammetric signal of Sn(IV) and, consequently, to improve the sensitivity and tin detection limit. The structural and chemical information about the bismuth films plated with and without the use of the mediator were derived from AFM and XPS data analysis. eng
dc.format p. 61–68 eng
dc.language.iso eng eng
dc.relation.ispartof Monatshefte fur Chemie, volume 147, issue: 1 eng
dc.rights Pouze v rámci univezity eng
dc.subject Electrochemistry eng
dc.subject Voltammetry eng
dc.subject  Sensors eng
dc.subject Surface eng
dc.subject Tin determination eng
dc.subject Elektrochemie cze
dc.subject voltametrie cze
dc.subject senzory cze
dc.subject povrch cze
dc.subject stanovení cínu cze
dc.title A Simple and Easy Way to Enhance Sensitivity of Sn(IV) on Bismuth Film Electrodes with the Use of a Mediator eng
dc.title.alternative Jednoduchý a nenáročný způsob zvýšení citlivosti stanovení Sn(IV) na bismutových filmových elektrodách s použitím mediátoru cze
dc.type article eng
dc.description.abstract-translated Bismutová filmová elektroda připravená in situ s využitím reverzibilně deponovaného mediátoru (Zn) byla použita pro anodickou rozpouštěcí voltametrii iontů kovů. Tento jednoduchý způsob modifikace elektrodového povrchu filmy kovů byl navržen ke zvýšení voltametrického signálu Sn(IV) a tím zlepšení citlivosti a detekčního limitu stanovení. Charakterizace bismutových filmů připravených s a bez použití mediátoru byla provedena pomocí AFM a XPS. cze
dc.peerreviewed yes eng
dc.publicationstatus published eng
dc.identifier.doi 10.1007/s00706-015-1601-x eng
dc.relation.publisherversion http://link.springer.com/article/10.1007/s00706-015-1601-x eng
dc.identifier.wos 000367521400009 eng
dc.identifier.scopus 2-s2.0-84952863898
dc.identifier.obd 39877672 eng

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace

Advanced Search


My Account