Digitální knihovna UPCE
→
Prohlížení dle předmětu

Prohlížení dle předmětu "optická charakterizace"

Zobrazují se záznamy 1-1 z 1

Název: Different theoretical approaches at optical characterization of randomly rough silicon surfaces covered with native oxide layers Typ: article Autor: Ohlidal, Ivan; Vohanka, Jiri; Mistrík, Jan; Cermak, Martin; Franta, Daniel Datum: 2018

Zobrazují se záznamy 1-1 z 1

Vyhledávání

Rozšířené hledání

Procházet

Vše v Digitální knihovně

Můj účet

Přihlásit se