Digitální knihovnaUPCE
 

Amorfní chalkogenidové tenké vrstvy

Disertační práce

Abstrakt

Disertační práce se zabývá přípravou a studiem objemových materiálů a amorfních tenkých vrstev systému Ge-As-Te. Tenké vrstvy byly připraveny technikou pulzní laserové depozice. Připravené tenké vrstvy a objemové vzorky byly studovány pomocí skenovacího elektronového mikroskopu s energiově-disperzním rentgenovým analyzátorem, Ramanovou spektroskopií, rentgenovou difrakcí, mikroskopií atomárních sil, diferenční skenovací kalorimetrií, hmotnostní spektrometrií LDI-TOF MS, měření povrchového napětí metodou přisedlé kapky a měření hustoty hydrostatickou metodou. Pomocí spektrální elipsometrie s proměnným úhlem dopadu byla studována fotostabilita vrstev jak v reverzibilním, tak i v ireverzibilním režimu.

Rozsah stran

111 s.

ISSN

Trvalý odkaz na tento záznam

Projekt

Zdrojový dokument

Vydavatelská verze

Přístup k e-verzi

bez omezení

Název akce

ISBN

Studijní obor

Povrchové inženýrství

Studijní program

Chemie a technologie materiálů

Signatura tištěné verze

D37170

Umístění tištěné verze

Univerzitní knihovna (studovna)

Přístup k tištěné verzi

Klíčová slova

amorfní chalkogenidy, GeAsTe, fotoindukované jevy, fotostabilita, pulzní laserová depozice, spektrální elipsometrie, amorphous chalcogenides, GeAsTe, photoinduced phenomena, photostability, pulsed laser deposition, spectroscopic ellipsometry

Endorsement

Review

item.page.supplemented

item.page.referenced