Optical, electrical and morphological study of PEDOT:PSS single layers spiral-bar coated with various secondary doping solvents

Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.author Syrový, Tomáš cze
dc.contributor.author Janíček, Petr cze
dc.contributor.author Mistrík, Jan cze
dc.contributor.author Pálka, Karel cze
dc.contributor.author Hawlová, Petra cze
dc.contributor.author Kubáč, Lubomír cze
dc.contributor.author Gunde, Marta cze
dc.date.accessioned 2017-05-11T11:00:30Z
dc.date.available 2017-05-11T11:00:30Z
dc.date.issued 2017 eng
dc.identifier.issn 0379-6779 eng
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10195/67459
dc.description.abstract The electrical, morphological and optical properties of a series of spiral-bar coated single layers of PEDOT:PSS influenced by the addition of 10 different secondary dopants have been studied. The optical properties of these samples have been analyzed over a broad spectral range from 190 nm to 30 microm using spectroscopic ellipsometry and transmittance. The isotropic model fits the ellipsometric data quite well. No substantial differences in the optical constants were obtained, despite a difference being expected from the significant change of specific electrical conductivity (by 3 orders of magnitude). In the infrared part of spectra, the multiple Lorentz oscillators’ model was used instead of the frequently used Drude model by applying narrow oscillators for molecular vibrations together with the broad oscillators describing electronic transitions in the mid-gap states. The geometrical parameters obtained from ellipsometry evaluation have been found to be in good agreement with standard mechanical characterization probes (profilometry and AFM). The highest value of the specific electric conductivity, 78.3 S/cm, was achieved by using n-methyl methanamide as a secondary dopant. The research results confirm that spectroscopic ellipsometry is a valuable tool for characterization of the functional layers used in printed electronics. eng
dc.format p. 139-147 eng
dc.language.iso eng eng
dc.relation.ispartof Synthetic Metals, volume 2017, issue: 227 eng
dc.rights embargoed access eng
dc.subject PEDOT:PSS eng
dc.subject secondary dopants eng
dc.subject spiral-bar coating eng
dc.subject spectroscopic ellipsometry eng
dc.subject electrical properties eng
dc.subject morphological properties eng
dc.subject PEDOT:PSS cze
dc.subject sekundární dopanty cze
dc.subject spiral-bar cze
dc.subject spektroskopická elipsometrie cze
dc.subject elektrické vlastnosti cze
dc.subject morfologické vlastnosti cze
dc.title Optical, electrical and morphological study of PEDOT:PSS single layers spiral-bar coated with various secondary doping solvents eng
dc.title.alternative Studium optických, elektrických a morfologických vlastností tenkých vrstev PEDOT:PSS připravených s různými sekundárními dopanty metodou spiral-bar cze
dc.type article eng
dc.description.abstract-translated Byly studovány elektrické, morfologické a optické vlastnosti tenkých vrstev PEDOT: PSS připravených metodou spiral-bar ovlivněné přidáním 10 různých sekundárních dopantů. Optické vlastnosti těchto vzorků byly analyzovány v širokém spektrálním rozsahu od 190 nm do 30 mikrometrů pomocí spektroskopické elipsometrie a optické propustnosti. K vyhodnocení elipsometrických dat lze využít isotropní model. Nebyly pozorovány žádné podstatné rozdíly v optických konstantách, přestože rozdíl se očekává vzhledem k významným změnám specifické elektrické vodivosti (o 3 řády). V infračervené části spektra byl použit model více Lorentzových oscilátorů namísto často používaného Drudeho modelu za použití úzkých oscilátorů pro molekulární vibrace spolu s širokými oscilátory popisujícími elektronické přechody v zakázaném pásu. Bylo zjištěno, že geometrické parametry získané z vyhodnocení elipsometrie jsou v dobrém souladu se standardními mechanickými charakterizační sondami (profilometrie a AFM). Nejvyšší hodnota specifické elektrické vodivosti, 78.3 S / cm, byla dosažena za použití N-methyl methanamide jako sekundárního dopantu. Výsledky výzkumu potvrzují, že spektroskopická elipsometrie je cenným nástrojem pro charakterizaci funkčních vrstev používaných v tištěné elektronice. cze
dc.peerreviewed yes eng
dc.publicationstatus postprint eng
dc.identifier.doi 10.1016/j.synthmet.2017.04.006
dc.relation.publisherversion http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0379677917300978
dc.identifier.wos 000401376700018
dc.identifier.scopus 2-s2.0-85017273454
dc.identifier.scopus 2-s2.0-85017273454
dc.identifier.scopus 2-s2.0-85017273454
dc.identifier.obd 39878761 eng


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam

Vyhledávání


Rozšířené hledání

Procházet

Můj účet