Zobrazit minimální záznam
dc.contributor.author |
Syrový, Tomáš
|
cze |
dc.contributor.author |
Janíček, Petr
|
cze |
dc.contributor.author |
Mistrík, Jan
|
cze |
dc.contributor.author |
Pálka, Karel
|
cze |
dc.contributor.author |
Hawlová, Petra
|
cze |
dc.contributor.author |
Kubáč, Lubomír
|
cze |
dc.contributor.author |
Gunde, Marta
|
cze |
dc.date.accessioned |
2017-05-11T11:00:30Z |
|
dc.date.available |
2017-05-11T11:00:30Z |
|
dc.date.issued |
2017 |
eng |
dc.identifier.issn |
0379-6779 |
eng |
dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10195/67459 |
|
dc.description.abstract |
The electrical, morphological and optical properties of a series of spiral-bar coated single layers of PEDOT:PSS influenced by the addition of 10 different secondary dopants have been studied. The optical properties of these samples have been analyzed over a broad spectral range from 190 nm to 30 microm using spectroscopic ellipsometry and transmittance. The isotropic model fits the ellipsometric data quite well. No substantial differences in the optical constants were obtained, despite a difference being expected from the significant change of specific electrical conductivity (by 3 orders of magnitude). In the infrared part of spectra, the multiple Lorentz oscillators’ model was used instead of the frequently used Drude model by applying narrow oscillators for molecular vibrations together with the broad oscillators describing electronic transitions in the mid-gap states. The geometrical parameters obtained from ellipsometry evaluation have been found to be in good agreement with standard mechanical characterization probes (profilometry and AFM). The highest value of the specific electric conductivity, 78.3 S/cm, was achieved by using n-methyl methanamide as a secondary dopant. The research results confirm that spectroscopic ellipsometry is a valuable tool for characterization of the functional layers used in printed electronics. |
eng |
dc.format |
p. 139-147 |
eng |
dc.language.iso |
eng |
eng |
dc.relation.ispartof |
Synthetic Metals, volume 2017, issue: 227 |
eng |
dc.rights |
embargoed access |
eng |
dc.subject |
PEDOT:PSS |
eng |
dc.subject |
secondary dopants |
eng |
dc.subject |
spiral-bar coating |
eng |
dc.subject |
spectroscopic ellipsometry |
eng |
dc.subject |
electrical properties |
eng |
dc.subject |
morphological properties |
eng |
dc.subject |
PEDOT:PSS |
cze |
dc.subject |
sekundární dopanty |
cze |
dc.subject |
spiral-bar |
cze |
dc.subject |
spektroskopická elipsometrie |
cze |
dc.subject |
elektrické vlastnosti |
cze |
dc.subject |
morfologické vlastnosti |
cze |
dc.title |
Optical, electrical and morphological study of PEDOT:PSS single layers spiral-bar coated with various secondary doping solvents |
eng |
dc.title.alternative |
Studium optických, elektrických a morfologických vlastností tenkých vrstev PEDOT:PSS připravených s různými sekundárními dopanty metodou spiral-bar |
cze |
dc.type |
article |
eng |
dc.description.abstract-translated |
Byly studovány elektrické, morfologické a optické vlastnosti tenkých vrstev PEDOT: PSS připravených metodou spiral-bar ovlivněné přidáním 10 různých sekundárních dopantů. Optické vlastnosti těchto vzorků byly analyzovány v širokém spektrálním rozsahu od 190 nm do 30 mikrometrů pomocí spektroskopické elipsometrie a optické propustnosti. K vyhodnocení elipsometrických dat lze využít isotropní model. Nebyly pozorovány žádné podstatné rozdíly v optických konstantách, přestože rozdíl se očekává vzhledem k významným změnám specifické elektrické vodivosti (o 3 řády). V infračervené části spektra byl použit model více Lorentzových oscilátorů namísto často používaného Drudeho modelu za použití úzkých oscilátorů pro molekulární vibrace spolu s širokými oscilátory popisujícími elektronické přechody v zakázaném pásu. Bylo zjištěno, že geometrické parametry získané z vyhodnocení elipsometrie jsou v dobrém souladu se standardními mechanickými charakterizační sondami (profilometrie a AFM). Nejvyšší hodnota specifické elektrické vodivosti, 78.3 S / cm, byla dosažena za použití N-methyl methanamide jako sekundárního dopantu. Výsledky výzkumu potvrzují, že spektroskopická elipsometrie je cenným nástrojem pro charakterizaci funkčních vrstev používaných v tištěné elektronice. |
cze |
dc.peerreviewed |
yes |
eng |
dc.publicationstatus |
postprint |
eng |
dc.identifier.doi |
10.1016/j.synthmet.2017.04.006 |
|
dc.relation.publisherversion |
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0379677917300978 |
|
dc.identifier.wos |
000401376700018 |
|
dc.identifier.scopus |
2-s2.0-85017273454 |
|
dc.identifier.scopus |
2-s2.0-85017273454 |
|
dc.identifier.scopus |
2-s2.0-85017273454 |
|
dc.identifier.obd |
39878761 |
eng |
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
Zobrazit minimální záznam
|
Vyhledávání
Procházet
-
Vše v Digitální knihovně
-
Tato kolekce
Můj účet
|