Příprava a charakterizace tenkých vrstev systému Ge-Sb-S

Abstract

Tato diplomová práce se zabývá studiem optických vlastností vakuově napařených tenkých vrstev chalkogenidových skel systému Ge20SbxS80-x, kde x = 5, 10, 15, 20 a systému GexSb35-xS65, kde x = 10, 15, 20 a jejich změn indukovaných expozicí a temperací. Jejich podstata je studována s využitím Ramanovy spektroskopie, kvalita připravených vrstev je studována metodou AFM