Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz
Konferenční objektOtevřený přístuppublishedDatum publikování
2013
Autoři
Vedoucí práce
Oponent
Název časopisu
Název svazku
Vydavatel
Univerzita Pardubice
Abstrakt
Článek se zabývá rentgenovou difrakční metodou Debyeovou-Scherrerovou na zpětný odraz a její využití. Metoda slouží k hodnocení povrchové vrstvy v hloubce několika μm. Jedná se o nedestruktivní zkoušky polykrystalického materiálu bez nutnosti speciální přípravy povrchu. Princip spočívá v dopadu
monochromatických paprsků na zkušební vzorek, kde dochází k difrakci rentgenového záření a následně toto záření detekuje na paměťovou fólii. Pomocí
skeneru získáme z paměťové fólie difraktogram dávající základní informace o stavu krystalové mřížky. V závislosti na spojitosti a pravidelnosti difrakční linie zobrazené na difraktogramu lze zjistit přítomnost textury a kvantitativní představu o velikosti zrn. Metoda se využívá při analýze teplotně ovlivněné oblasti
a stanovení nehomogenit v okolí svárů, dále při stanovení stupně plastické deformace po tváření a určení stupně rekrystalizace po tepelném zpracování. Výhodou metody je možnost měření tvarově složitých a velkých vzorků.
Rozsah stran
p. 50-54
ISSN
Trvalý odkaz na tento záznam
Projekt
Zdrojový dokument
Vydavatelská verze
Přístup k e-verzi
open access
Název akce
TechMat ´13. Perspektivní technologie a materiály pro technické aplikace (21th November 2013, Svitavy, Czech Republic)
ISBN
978-80-7395-735-3
Studijní obor
Studijní program
Signatura tištěné verze
Umístění tištěné verze
Přístup k tištěné verzi
Klíčová slova
rentgenová difrakce, Debyeova-Scherrerova metoda, textury, velikost zrna